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本书阐述了晶体缺陷对炸药性能影响的数值模拟与评估方法，主要内容包括微观缺陷对PETN性能的影响、微观缺陷对HMX基PBX性能的影响、微观缺陷对B炸药性能的影响、微观缺陷对CL-20DNB共晶炸药性能的影响、微观缺陷对CL-20TNT共晶炸药性能的影响、微观缺陷对CL-20NQ共晶炸药性能的影响、微观缺陷对CL-20HMX共晶炸药性能的影响、微观缺陷对HMXNTO共晶炸药性能的影响、微观缺陷对HMXNQ共晶炸药性能的影响等相关内容。
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| 基本信息 | |
|---|---|
| 出版社 | 国防工业出版社 |
| ISBN | 9787118137699 |
| 条码 | 9787118137699 |
| 编者 | 杭贵云 著 |
| 译者 | -- |
| 出版年月 | 2025-08-01 00:00:00.0 |
| 开本 | 其他 |
| 装帧 | 平装 |
| 页数 | 212 |
| 字数 | 235000 |
| 版次 | 1 |
| 印次 | 1 |
| 纸张 | |
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